《鍺單晶位錯密度的測試方法》(GB/T5252-2020)【全文附高清無水印PDF版下載】
瀏覽量: 時間:2020-06-26 01:14:39
《鍺單晶位錯密度的測試方法》(GB/T5252-2020)【全文附高清無水印PDF版下載】
標準號:GB/T5252-2020
中文標準名稱:鍺單晶位錯密度的測試方法
英文標準名稱:Test method for dislocation density of monocrystal germanium
中國標準分類號(CCS) H21 國際標準分類號(ICS) 77.040
發(fā)布日期 2020-06-02 實施日期 2021-05-01
主管部門 國家標準化管理委員會 歸口單位 全國半導(dǎo)體設(shè)備和材料標準化技術(shù)委員會
發(fā)布單位 國家市場監(jiān)督管理總局、中國國家標準化管理委員會
全文下載:《鍺單 晶位錯密 度的測試方 法》(GB/T5252-2020)【提取碼: 9ia5】
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